【立錡內訓課程:不藏私大公開 3.0】自製 EOS 測試工具
立錡科技累積了大量的 IC 失效分析案例,發現絕大多數的問題都是發生在 IC 輸入端的電氣過應力(EOS)上。立錡科技的資深 FAE 透過影片公開分享,如何利用自製的過應力測試工具,生成脈動的電流、電場和磁場,來模擬 IC 可能會遭遇到的偶發性惡劣狀況。
若想進一步了解 EOS 是如何發生的?EOS 與 ESD 的差別為何? 它又是如何導致 IC 失效的?請查看立錡科技應用筆記:https://goo.gl/1H68R7
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【立錡內訓課程:不藏私大公開 3.0】自製 EOS 測試工具
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